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FIB专用预倾角样品台(预倾台)
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荷兰M2N供应的EM Tec系列SEM样品台，包括多种使您更容易和更快地将样品直接装载到SEM中的样品台。样品通过在钳口间夹紧或用螺钉固定来装载。一旦样品被正确固定，样品不会松动漂移，这增加了成像和分析的空间分辨率。采用该系列样品台，也不会出现气体释放或污染问题。所有样品台既可以直接使用，也可以加装适配器与扫描电镜载物台一起使用，几乎可以与任何标准的扫描电镜完美兼容。此外，还供应台式扫描电镜的样品台。
SEM样品台种类繁多,限于篇幅，本文仅介绍其中FIB预倾角样品台（FIB pre-tilt stub holders）。
FIB 预倾角样品台
荷兰M2N供应的FIB 预倾角样品台专用于 FIB/SEM 双束系统，通过固定预倾角使样品表面与聚焦离子束（FIB）柱体垂直，从而实现垂直于样品表面的直线离子束铣削。该设计利用预倾角补偿电子束柱与离子束柱之间的夹角，使用时无需倾斜样品台即可实现最佳铣削几何条件。
目前提供以下三种型号：
① P38 固定38°倾角样品台，适配FEI钉形样品座。该产品可为赛默飞（TFS/FEI）双束FIB/SEM系统的样品提供38°预倾角，不含销钉尺寸为Ø12.7×17mm。
② P36 固定36°倾角样品台，适配蔡司钉形样品座。该产品可为蔡司CrossBeam FIB/SEM系统的样品提供36°预倾角，不含销钉尺寸为Ø12.7×17mm。
③ P35 固定35°倾角样品台，适配标准及泰思肯钉形样品座。该产品可为泰思肯FIBxSEM系统的样品提供35°预倾角，不含销钉尺寸为Ø12.7×17mm。
技术特点：
采用固定角度设计，确保样品定位重复性
直接兼容各厂商标准样品台接口
消除样品台倾斜引起的坐标系误差
优化铣削几何条件，提升截面制备质量
应用场景：
透射电镜样品制备
集成电路截面分析
纳米结构三维重构
定点失效分析
参数规格表：
详细订购信息:
具有钢结构工程专业承包二级资质、建筑工程施工总承包贰级资质；公司主营产品包括重钢、轻钢、网架及檩条、彩钢板等钢结构产品；近年来，公司承接了国内外大型结构件、桥梁、车库、标准化厂房等具有较大影响力的一系列项目；产品远销白俄罗斯、赞比亚、印尼等国家，得到了一致好评。
关键词： FIB专用预倾角样品台(预倾台)
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