Deben近期开发了一种新的2KN拉伸台，可选择加热至600°C的加热装置，专门用于装有EBSD探测器的扫描电镜内。该台有双样品夹具，允许样品在0°和70°下观察，并可配备温度范围高达600°C的可选的加热/冷却夹具。

CT5000原位测试台用途广泛，适应性强，重量小于6.0kg，适用于安装在常见的中程μXCT系统，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE v|tome|x等

双丝杆工作台的设计允许透射和反射照明两种，可安装在光学显微镜、X射线衍射系统或同步加速器上。

2kN & 5kN单丝杆拉伸、压缩及水平弯曲台   2kN和5kN拉伸台测试模块为特殊设计，可以用SEM、光学显微镜、AFM或XRD系统实时观察样品的高应力区域。Windows 7.0/10软件设置驱动器参数，并在计算机屏幕上实时显示应力/应变曲线。从150N到5kN的测力测力传感器覆盖了大多数应用，位移速率从0.005mm/min到50mm/min。所有台子都有用于测量伸长率的线性刻度和用于速度控制的光学编码器。可选项包含3点和4点弯曲夹具，纤维夹具和显微镜安装适配器。所有的模块都由我们的微测试拉伸测试软件控制，特殊的版本可以根据客户的要求定制。   2kN拉伸台 2kN拉伸台采用了定制微型测量传感器，范围在660N到2kN之间。样品水平安装，被夹在一对夹具上，支撑在不锈钢滑动轴承上。双丝杆对称地在相反的方向驱动夹具，保持样品在视野的中心。2kN模块非常适合与扫描电子显微镜、光学显微镜或原子力显微镜配套使用，并且很容易安装在大多数样品台上。应用范围从聚合物，薄膜，纤维和薄金属样品等。定制版本可获得从-20°C到+160°C通过帕尔帖加热和冷却及扩展的行程   5kN拉伸台   这个5kN拉伸台非常类似于2kN拉伸台，除了它的大小和最大载荷力。该5kN模块可适用于较大的腔体SEMs、AFMs和光学显微镜。应用领域包括陶瓷、金属和聚合物。定制版本可获得从-20°C到+160°C通过帕尔帖加热和冷却及扩展的行程。   用于SEM的具有加热和冷却功能的2kN拉伸台(新产品)   DEBEN近期开发出一种新的2kN拉伸台，可选加热到600°C加热附件，专用于与扫描电镜EBSD探测器配套使用。该拉伸台有两个样品夹具，可在0°和70°进行样品观察，并可配备可选的加热/冷却夹具，温度范围可达600°C。   推荐应用：   扫描电子显微镜（SEM）、光学显微镜及原子力显微镜等   相关产品链接 2KN拉伸台（用于SEM EBSD，可选加热附件） 200N压缩和水平弯曲台 300N & 2kN 3&4 点垂直弯曲台（用于SEM）

CT20K，全开放式框架，拉伸、压缩和扭转试验台，专为同步加速器和基于房间的X射线CT成像系统设计

CT500原位测试台用途广泛，适应性强，重量小于1.0kg，适用于安装在常见的中程μXCT系统（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE v|tome|x）以及所谓的“纳米”系统（如蔡司/Xradia XCT-200和GE Nanoom S）中

MICROTEST三点弯曲和拉伸/压缩模块专门设计用于在扫描电镜或光学显微镜下观察样品的高应力区。

200N原位拉伸台MICROTEST200N模块经过特别设计，可以通过扫描电镜、光学显微镜、原子力显微镜或XRD系统实时观察样品的高应力区。

用于μXCT断层成像系统的DEBEN帕尔贴冷热台允许在冷冻条件下对样品进行成像，双层聚苯乙烯（可选碳）窗可防止结冰，并可将样品快速冷却至-20°C

Deben可以提供一系列不同台子用于双轴和四轴拉伸试验。无论您有什么样的需求，Deben都有一个适合您应用的解决方案，我们有一个标准2kN的台子，并可以定制从50N到100kN不同力的其他定制系统。