CT500 500N原位拉伸台(μXCT应用)

CT500 500N原位拉伸台(μXCT应用)

与µXCT 系统主要制造商联合，包括蔡司、RX Solutions、Tescan/XRE、Nikon、Thermo Fisher Scientific和Waygate/GE，我们现在能够为您的μXCT应用提供集成的拉伸测试解决方案。使用带有μXCT的拉伸试验，可以清晰直观地解释材料和复合材料在不同加载条件下的性能变化。这些测试台的紧凑设计使其能够与最小的高分辨率微型CT系统一起使用，提供一系列拉伸和压缩台，力高达20kN，分辨率低至25mN。系统由综合微测试拉伸级控制软件控制，提供广泛的控制功能和负载与扩展的实时显示，并为特定的μXCT系统提供所有必需的布线和安装适配器。更多细节和价格可从您的micro-CT供应商或直接从覃思获得。

CT500原位测试台用途广泛，适应性强，重量小于1.0kg，适用于安装在常见的中程μXCT系统（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE v|tome|x）以及所谓的“纳米”系统（如蔡司/Xradia XCT-200和GE Nanoom S）中。

CT500 可选项:

• 3点和4点弯曲夹具
• 用于大样品或小样品的定制夹具和样品国定座

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