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英国Deben_CT500 500N原位拉伸台(μXCT应用)
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CT500-XCT200-big
CT500-composite-big

英国Deben_CT500 500N原位拉伸台(μXCT应用)

CT500原位测试台用途广泛,适应性强,重量小于1.0kg,适用于安装在常见的中程μXCT系统(如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE v|tome|x)以及所谓的“纳米”系统(如蔡司/Xradia XCT-200和GE Nanoom S)中
产品型号:
CT500
CT500-XCT200-big
CT500-composite-big
产品描述

CT500 500N原位拉伸台(μXCT应用)

 

µXCT 系统主要制造商联合包括蔡司、RX SolutionsTescan/XRENikonThermo Fisher ScientificWaygate/GE,我们现在能够为您的μXCT应用提供集成的拉伸测试解决方案。使用带有μXCT的拉伸试验,可以清晰直观地解释材料和复合材料在不同加载条件下的性能变化。这些测试台的紧凑设计使其能够与最小的高分辨率微型CT系统一起使用,提供一系列拉伸和压缩,力高达20kN,分辨率低至25mN。系统由综合微测试拉伸级控制软件控制,提供广泛的控制功能和负载与扩展的实时显示,并为特定的μXCT系统提供所有必需的布线和安装适配器。更多细节和价格可从您的micro-CT供应商或直接从覃思获得。

 

CT500原位测试台用途广泛,适应性强,重量小于1.0kg,适用于安装在常见的中程μXCT系统(如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia VersaGE v|tome|x)以及所谓的“纳米”系统(如蔡司/Xradia XCT-200GE Nanoom S)中。

 

CT500 可选项:

  • 3点和4点弯曲夹具
  • 用于大样品或小样品的定制夹具和样品国定座

 

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